Objeto
Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Clasificadores
Microscopios electrónicos de barrido
Láseres
Financiacion
Asociado al Plan de Recuperación, Transformación y Resiliencia