Objeto
Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas. LOT-0000: Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas en la memoria justificativa de la necesidad de contratar y en el pliego de prescripciones téc...
Clasificadores
Láseres
Microscopios electrónicos de barrido